铝硅面垒型半导体探测器作为标定手段的论证A Demonstration On Al - Si Surface - Barrier Semiconductor Defector Used As a Given Somple Measure
李俊兴
摘要(Abstract)：
对用铝硅面垒型半导体探测器作为标定手段进行了充分的论证。该探测器可以用来测试软X射线,较之于全吸收充氙电离室,它有体积小、使用方便等优点;比金硅面垒型半导体探测器的透射率又大得多,文章对各种物理机制引出的诸修正项和各种参量测量的误差,做了认真的考虑、分析和计算(含估算)。结果表明,总精度小于10％。
关键词(KeyWords)： 软X射线;探测器;标定
基金项目(Foundation):
作者(Author): 李俊兴
DOI: 10.16393/j.cnki.37-1436/z.1998.04.005
参考文献(References)：
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